龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：湖南纳洣小芯半导体有限公司
摘要：本发明提供了一种热敏片电阻寿命的测量方法，涉及热敏片生产技术领域。该热敏片电阻寿命的测量方法包括：测量施加工作电压V的标准热敏片电阻R在梯度加压时间T下所施加的加压能量E，及所对应的电阻阻值变化率α；绘制电阻阻值变化率α与加压能量E的关系曲线图；确定当标准热敏片电阻R的电阻阻值变化率α为预设阈值时所对应的加压能量E阈；测量待测热敏片电阻r的电阻阻值变化率β为预设阈值时所对应的加压能量e，当待测热敏片电阻r的加压能量e大于或等于标准热敏片电阻R的加压能量E阈时，则判定待测热敏片电阻r的寿命合格。该种热敏片电阻寿命的测量方法可以缩短热敏片电阻寿命的测量时间。
主权项：1.一种热敏片电阻寿命的测量方法，其特征在于，所述热敏片电阻寿命的测量方法包括步骤：根据E＝V2R×T，测量施加工作电压V的标准热敏片电阻R在梯度加压时间TT1、T2……Tn下所施加的加压能量EE1、E2……En，及所对应的电阻阻值变化率αα1、α2……αn；根据所施加的加压能量EE1、E2……En及所对应的电阻阻值变化率αα1、α2……αn绘制电阻阻值变化率α与加压能量E的关系曲线图；根据所绘制的电阻阻值变化率α与加压能量E的关系曲线图，确定当标准热敏片电阻R的电阻阻值变化率α为预设阈值时所对应的加压能量E阈；测量待测热敏片电阻r的电阻阻值变化率β为预设阈值时所对应的加压能量e阈，当待测热敏片电阻r的加压能量e阈大于或等于标准热敏片电阻R的加压能量E阈时，则判定待测热敏片电阻r的寿命合格。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 湖南纳洣小芯半导体有限公司 热敏片电阻寿命的测量方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号