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申请/专利权人：中国地质科学院地质研究所
摘要：本发明公开了一种岩石薄片样品二次离子质谱铀‑铅定年方法，包括以下步骤：S1，样品扫描：识别样品中的定年矿物所在位置；S2，样品切割：将样品中的定年矿物区域切割提取，形成圆形薄片；S3，样品制靶，对提取出的圆形薄片进行制靶；S4，样品抛光，对薄片靶进行抛光，并镀导电膜；S5，二次扫描，对定年矿物所在区域进行扫描拍摄；S6，样品清洗，对薄片靶进行清洗并镀金处理；S7，对样品靶进行铀‑铅定年。本发明可以有效解决样品靶与标样靶物质性质差异导致的定年结果不准确的问题；避免样品和标在在同一样品靶上，抛光导致的样品损失；可保留样品原始的岩石矿物信息，对样品进行微区原位定年，获取保存有更多地质意义的定年结果。
主权项：1.一种岩石薄片样品二次离子质谱铀-铅定年方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，样品扫描：识别样品中的定年矿物所在位置；S2，样品切割：将样品中的定年矿物区域切割提取，形成圆形薄片；S3，样品制靶，对提取出的圆形薄片进行制靶；S4，样品抛光，对薄片靶进行抛光，并镀导电膜；S5，二次扫描，对定年矿物所在区域进行扫描拍摄；S6，样品清洗，对薄片靶进行清洗并镀金处理；S7，对样品靶进行铀-铅定年。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国地质科学院地质研究所 一种岩石薄片样品二次离子质谱铀-铅定年方法
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