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申请/专利权人：北京中测国宇科技有限公司

摘要：本发明涉及一种基于多馈源紧缩场的5G设备OTA测量系统及方法，所述测量系统运行在微波暗室内，包括5G设备和紧缩场OTA测量系统，所述紧缩场OTA测量系统包括反射面、馈源、测试转台、信号源、频谱分析仪、综测仪、主控计算机；测量系统通过紧缩场OTA测量系统中焦点馈源与偏焦馈源阵列形成多个指向的静区，且多个静区互相叠加，而5G设备测试时放置于静区内，该发明通过多馈源阵列位置与静区指向的严格对应关系，利用多馈源射频网络快速切换进行数据采集，从而替代传统依靠测试转台机械旋转进行数据采集。本发明能够在保证静区质量条件下提升5G设备OTA测量效率。

主权项：1.一种基于多馈源紧缩场的5G设备OTA测量系统，所述测量系统运行在微波暗室（9）内，其特征在于，所述测量系统包括5G设备（1）、反射面（2）、馈源（3）、测试转台（4）、信号源（5）、频谱分析仪（6）、综测仪（7）和主控计算机（8）；5G设备（1）包括基站、手机、平板以及笔记本中的任意一种终端设备；所述馈源（3）为多馈源箱形式，包括3只带内24-44GHz馈源、1只6-24GHz馈源、1只40-60GHz馈源和1只60-90GHz馈源，均为线极化馈源，3只24-44GHz馈源分别位于反射面（2）的焦点、负偏焦L1位置和正偏焦L2位置，L1和L2绝对值相等；40-60GHz馈源以及60-90GHz馈源间隔插入水平排列的3只带内24-44GHz馈源，且40-60GHz馈源水平左偏L3，60-90GHz馈源水平右偏L4，6-24GHz馈源在反射面（2）的焦点垂直方向上偏焦L5，L1～L5取值均在1°～5°；馈源（3）发射球面波经由反射面（2）在馈源（3）顶部后方的测试转台（4）所在区域形成圆柱形平面波区域，即静区；所述测试转台（4）用于架设5G设备（1）；所述信号源（5）用于连接馈源（3）进行5G设备（1）上行信号发射；所述频谱分析仪（6）用于连接馈源（3）进行5G设备（1）下行信号接收；所述综测仪（7）用于连接馈源（3）进行5G设备（1）上下行信号交互测试；所述主控计算机（8）采用标准工业控制计算机，用于通过交换机接收信号源（5）、频谱分析仪（6）、综测仪（7）的数据，对所述测量系统进行时序控制、数据采集和分析；所述微波暗室（9）用于提供无反射测试环境。

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