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申请/专利权人：上海三伍微电子有限公司
摘要：本实用新型涉及射频芯片测试技术领域，尤其为一种射频芯片测试用夹具，包括测试夹具本体，测试夹具本体包括有射频芯片测试放置台，射频芯片测试放置台顶部开设有用于对射频芯片进行测试放置的测试腔，射频芯片测试放置台顶部设有用于对测试腔内部射频芯片进行位置限定的限位夹具盖，限位夹具盖上设有用于对测试后的射频芯片进行取出的射频芯片自动取出组件；本申请设置射频芯片自动取出组件，当测试完成后主动将位于测试腔内部的射频芯片取出，使用操作方便，无需通过人工将射频芯片从测试腔内部取出，大大提高了测试效率，减轻操作负担的同时还可以有效地防止因手动取出芯片而导致的误操作或损坏，提高了测试结果的准确性。
主权项：1.一种射频芯片测试用夹具，包括测试夹具本体，其特征在于：所述测试夹具本体包括有射频芯片测试放置台1，所述射频芯片测试放置台1顶部开设有用于对所述射频芯片进行测试放置的测试腔11，所述射频芯片测试放置台1顶部设置有用于对所述测试腔11内部射频芯片进行位置限定的限位夹具盖12，所述限位夹具盖12上设置有用于对测试后的射频芯片进行取出的射频芯片自动取出组件2。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海三伍微电子有限公司 一种射频芯片测试用夹具
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