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申请/专利权人：株式会社LG化学
摘要：根据本公开的一个方面，提供了一种多孔结构的孔分布的分析方法，包括：使用扫描电子显微镜SEM观察多孔结构的横截面以得到所述多孔结构的横截面的原始图像；和通过沃罗诺伊图量化所得到的原始图像的孔分布。根据所述孔分布分析方法，可以定量地分析多孔结构的孔分布。
主权项：1.一种多孔结构的孔分布的分析方法，包括：使用扫描电子显微镜SEM观察多孔结构的横截面以得到所述多孔结构的横截面的原始图像；和通过沃罗诺伊图量化得到的所述原始图像的孔分布。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社LG化学 多孔结构的孔分布的分析方法
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