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申请/专利权人：中国计量科学研究院

摘要：本发明提供了一种用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法，包括：在参考辐射场中，对标准设备和拟建数据库型号下的第一待校设备至第n待校设备进行校准，并获取第一放射源产生的第一非扩展齐向场的响应信号，随后建立关于型号‑相对位置关系‑统计数据的数据库，在原位校准时，通过与第一放射源相同型号的第二放射源产生第二非扩展齐向场，并查询当前待校准设备的型号后，根据该型号对应的数据库中的值，得到当前待校准设备的目标原位校准因子。

主权项：1.一种用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法，其特征在于，所述方法包括：在参考辐射场中，对标准设备和拟建数据库型号下的第一待校设备至第n待校设备进行校准，获得所述标准设备的第一校准因子、所述第一待校设备的第一个第二校准因子直至所述第n待校设备的第n个第二校准因子；在实验室本底条件下，获得所述标准设备的第一本底响应信号、所述第一待校设备的第一个第二本底响应信号直至所述第n待校设备的第n个第二本底响应信号；使用第一放射源产生第一非扩展齐向场，固定所述第一放射源、所述标准设备和所述第一待校设备为第一相对位置关系，获得在所述第一相对位置关系下，所述标准设备对于所述第一非扩展齐向场的第一响应信号和所述第一待校设备对于所述第一非扩展齐向场的第二响应信号；根据所述第一校准因子、第一个第二校准因子、所述第一本底响应信号、所述第二本底响应信号、所述第一响应信号和所述第二响应信号，计算所述标准设备和所述第一待校设备在所述第一相对位置关系下的第一个第一相对响应结果，直至计算得到所述标准设备和所述第一待校设备在第m相对位置关系下的第m个第一相对响应结果；计算所述标准设备和所述第n待校设备在所述第一相对位置关系下的第一个第n相对响应结果，直至计算得到所述标准设备和所述第n待校设备在第m相对位置关系下的第m个第n相对响应结果；根据所述第一个第一相对响应结果至所述第一个第n相对响应结果，得到所述拟建数据库型号在第一相对位置关系下的第一统计数据,直至根据所述第一个第n相对响应结果至第m个第n相对响应结果，得到所述拟建数据库型号在第m相对位置关系下的第m统计数据；在原位校准条件下，获得标准设备的第三本底响应信号和当前待校设备的第四本底响应信号；所述当前待校设备的型号存在于所述拟建数据库型号中；使用第二放射源产生第二非扩展齐向场，固定所述第一放射源、所述标准设备和所述当前待校设备为第一相对位置关系，获得在所述第一相对位置关系下，所述标准设备对于所述第二非扩展齐向场的第三响应信号和所述当前待校设备对于所述第二非扩展齐向场的第四响应信号；其中，所述第二放射源和所述第一放射源为同一类型的放射源；根据所述第一校准因子、所述第三本底响应信号、所述第四本底响应信号、在第一相对位置关系下的所述第三响应信号和所述第四响应信号，在第一相对位置关系下第一统计数据，计算所述当前待校设备在第一相对位置关系下的第一原位校准因子，直至得到当前待校设备在第m相对位置关系下的第m原位校准因子；根据所述第一原位校准因子至所述第m原位校准因子，计算得到目标原位校准因子。

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百度查询： 中国计量科学研究院 用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法、装置及系统