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申请/专利权人：武汉高思光电科技有限公司
摘要：本实用新型提供一种透镜加工测量设备，涉及光学检测领域，包括机架，机架上固定有光学平台，光学平台内设有减震机构，光学平台的一端间隔固定有两组金样，金样为标准的样品，金样通过XY轴调节装置固定在光学平台上，XY轴调节装置上还固定有激光光源，激光光源射向光学平台的另一端；靠近金样一侧的光学平台的侧壁上固定有两个显示屏，显示屏上标示检测合格区域；光学平台的另一端间隔固定V型棱镜和玻璃块，用于承载待测透镜，以在激光光源射向待测透镜上的测量点时，测量点反射至显示屏上。该装置可以利用显示屏将画面直观显示出来，人工可以方便快捷的看到透镜端面的角度误差，有助于提高检测效率和精度。
主权项：1.一种透镜加工测量设备，其特征在于，包括机架，所述机架上固定有光学平台，所述光学平台内设有减震机构，所述光学平台的一端间隔固定有两组金样，所述金样为标准的样品，所述金样通过XY轴调节装置固定在所述光学平台上，所述XY轴调节装置上还固定有激光光源，所述激光光源射向所述光学平台的另一端；靠近所述金样一侧的所述光学平台的侧壁上固定有两个显示屏，两个所述显示屏与两个所述金样一一对应设置，所述显示屏上标示检测合格区域；所述光学平台的另一端间隔固定有两个固定架，两个所述固定架分别用于固定V型棱镜和玻璃块，所述V型棱镜和所述玻璃块分别用于承载待测透镜的直角端和平面端，两个所述固定架分别正对两个所述显示屏设置，以在所述激光光源射向所述待测透镜上的测量点时，所述测量点反射至所述显示屏上。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉高思光电科技有限公司 一种透镜加工测量设备
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