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申请/专利权人：南通向日亚精密机电科技有限公司
摘要：本发明涉及电数字数据处理技术领域，具体公开一种电子元器件的寿命预测方法，该方法包括：获取电子元器件实际使用环境参数；生成电子元器件使用环境参数偏差率，比对得到电子元器件实际使用环境评级；获取电子元器件历史使用进度评估值和磨损状况，分析得到电子元器件质量参数并进行电子元器件质量评级；基于电子元器件使用环境评级和质量评级形成电子元器件数据集，提取数据信息得到合格电子元器件信息组合；基于数据库中电子元器件级别寿命预测修正因子，对合格电子元器件信息组合综合分析得到电子元器件预测寿命，有助于电子元器件寿命预测相关影响因素的准确表达，节约避免无意义误差大的寿命预测，提高寿命预测准确性。
主权项：1.一种电子元器件的寿命预测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取电子元器件实际使用环境参数，所述实际使用环境参数包括环境温度，环境湿度，机械应力后果以及电子元器件震动频率；基于数据库中电子元器件使用环境参数标准值生成电子元器件使用环境参数偏差率，比对得到电子元器件实际使用环境评级；获取电子元器件历史使用进度评估值和磨损状况，综合分析得到电子元器件质量参数，并基于电子元器件质量参数进行电子元器件质量评级；基于电子元器件使用环境评级和电子元器件质量评级，形成电子元器件数据集，提取对应评级等级，对比得到合格电子元器件信息组合；基于数据库中电子元器件级别寿命预测修正因子，对合格电子元器件信息组合综合分析得到电子元器件预测寿命。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 南通向日亚精密机电科技有限公司 一种电子元器件的寿命预测方法
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