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一种集成电磁兼容性与性能测试的电子产品综合检测平台 

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申请/专利权人:常州信息职业技术学院

摘要:本发明涉及电子产品检测技术领域,尤其涉及一种集成电磁兼容性与性能测试的电子产品综合检测平台,解决了现有技术中不同的电子产品综合检测平台可能采用不同的检测标准和方法,导致检测结果之间缺乏可比性,会给制造商和消费者带来困惑的问题。一种集成电磁兼容性与性能测试的电子产品综合检测平台,包括前期准备、搭建测试环境、进行电磁兼容性测试、进行性能测试、数据分析和评估、编写测试报告、反馈和改进,确定检测目的和范围。本发明通过严格的前期准备、环境搭建和精确的测试步骤,能够确保测试结果的准确性和可靠性,每一步都经过精心设计和校准,从而最大程度地减少了误差和干扰,为产品的进一步开发和改进提供了坚实的基础。

主权项:1.一种集成电磁兼容性与性能测试的电子产品综合检测平台,包括前期准备、搭建测试环境、进行电磁兼容性测试、进行性能测试、数据分析和评估、编写测试报告、反馈和改进,确定检测目的和范围,明确需要测试的电子产品以及关注的电磁兼容性和性能指标,准备电磁兼容性测试所需的环境,包括电磁屏蔽室,并确保环境能够模拟实际工作情况,选择并配置合适的测试设备和仪器,如频谱分析仪、场强计、电源滤波器,根据测试需求,制定详细的测试计划,包括测试场景、测试数据准备,根据前期准备中制定的计划,搭建符合要求的测试环境,进行发射性测试,包括辐射发射测试和传导发射测试,记录并分析电子产品的电磁辐射水平。

全文数据:

权利要求:

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