买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:兰州大学
摘要:本发明的实施例提供了一种用于测量磁介电材料全特性的微波传感器及电子设备,涉及微波领域。金属板层上开设有第一刻槽和第二刻槽,第一刻槽包括圆弧段和直线段,直线段的两端分别与圆弧段的两端连接。第二刻槽为圆环形,且与第一刻槽同圆心,第二刻槽上设置有开口。金属板层上设置有磁导率测量区和介电常数测量区,磁导率测量区位于金属板层上与开口对应的区域,用于测量磁介电材料的磁导率。介电常数测量区设置于金属板层上,并位于圆弧段和第一弧段与直线段的中线相交处所对应的区域,用于测量磁介电材料的介电常数。避免了磁场和电场之间的相互干扰,做到了既能测量磁介电材料的介电常数,也能够测量磁介电材料的磁导率。
主权项:1.一种用于测量磁介电材料全特性的微波传感器,其特征在于,包括金属板层、介质层和微带线层,所述介质层位于所述金属板层与所述微带线层之间,所述金属板层上开设有第一刻槽和第二刻槽,其中:所述第一刻槽包括圆弧段和直线段,所述圆弧段所对应的圆心角为180°,所述直线段的两端分别与所述圆弧段的两端连接;所述第二刻槽为圆环形,且与所述第一刻槽同圆心,所述第二刻槽通过所述直线段的直线划分为相等的第一弧段和第二弧段,所述第一弧段位于所述圆弧段的一侧,所述第二弧段位于所述直线段的一侧,所述第二弧段上设置有开口;所述金属板层上设置有磁导率测量区和介电常数测量区,所述磁导率测量区位于所述金属板层上与所述开口对应的区域,用于测量磁介电材料的磁导率,所述介电常数测量区位于所述圆弧段和或所述第一弧段与所述直线段的中线相交处所对应的区域,用于测量磁介电材料的介电常数。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 兰州大学 用于测量磁介电材料全特性的微波传感器及电子设备
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。