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申请/专利权人：西安立芯光电科技有限公司
摘要：本发明涉及一种半导体激光器测试系统、测试方法，属于半导体激光器性能测试技术领域，解决半导体激光器光功率和光谱测试系统结构复杂、实现难度大，测试效率低的技术问题。其测试系统包括功率探测单元、信号采集单元、光纤、光谱仪、多边形柱状体结构。光电探测器、光纤和多边形柱状体组合后形成测试组件，信号采集单元、光谱仪均与测试组件连通。其测试方法包括测试组件插入环形激光器圆心，测试组件中的光电探测器与半导体激光器的发光单元对齐；光电探测器接收发光单元出射激光的电压信号，信号采集单元将电压信号换算为功率值输出；光纤接收发光单元出射激光信号，传输至光谱仪，光谱仪显示半导体激光器的光谱的步骤。
主权项：1.一种半导体激光器测试系统，其特征在于，包括功率探测单元、信号采集单元、光纤、光谱仪、多边形柱状体；所述功率探测单元与多边形柱状体焊接连接，功率探测单元与信号采集单元连接，光纤与光谱仪均连通；功率探测单元、光纤和多边形柱状体共同组成测试组件；测试系统测试时，测试组件插入半导体激光器圆心，多边形柱状体圆心与激光器圆心重合，测试组件的光电探测器与半导体激光器的发光单元对齐。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安立芯光电科技有限公司 一种半导体激光器测试系统、测试方法
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