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申请/专利权人：苏州联讯仪器股份有限公司
摘要：本发明提供了一种用于芯片测试的测试治具及芯片测试设备，涉及芯片测试技术领域。基座组件具有可拆卸连接的探针座和PCB板。每个第一探针组件可拆卸地安装在探针座上，第一测试探针的一端与PCB板接触，另一端与被测芯片接触，且被测芯片通过吸附组件设置于第一探针组件的上方。每个第二探针组件可拆卸地安装在探针座上，第二测试探针的一端与PCB板接触，另一端与吸附组件上设置的加热座接触。上述技术方案不仅将用于对被测芯片进行测试的第一探针组件设置成可拆卸地，还将与加热座连接形成回路的第二探针组件设置成可拆卸地，从而可以减少探针更换的操作步骤，大幅减少操作时间，并且能够保证测试治具在探针更换前后的位置一致性。
主权项：1.一种用于芯片测试的测试治具，其特征在于，包括：基座组件，所述基座组件具有可拆卸连接的探针座和PCB板，所述PCB板位于所述探针座的下方，且与测试机电连接；至少一个第一探针组件，每个所述第一探针组件可拆卸地安装在所述探针座上，且具有至少一个第一测试探针，每个所述第一测试探针的一端与所述PCB板接触，另一端与被测芯片接触，且所述被测芯片通过吸附组件设置于所述第一探针组件的上方；至少一个第二探针组件，每个所述第二探针组件可拆卸地安装在所述探针座上，且具有至少一个第二测试探针，每个所述第二测试探针的一端与所述PCB板接触，另一端与所述吸附组件上设置的加热座接触。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州联讯仪器股份有限公司 一种用于芯片测试的测试治具及芯片测试设备
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