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申请/专利权人：昆山思特威集成电路有限公司
摘要：本实用新型提供了一种芯片温度测试装置，包括测试治具、温度测试箱、抽屉组件和用于驱动抽屉组件滑动的驱动机构，温度测试箱具有测试内腔，且温度测试箱开设有连通测试内腔的进出口，抽屉组件能够在进出口处滑动，抽屉组件包括第一门板、第二门板以及连接第一门板和第二门板的载板，在抽屉组件位于打开状态时，第一门板遮挡进出口，在抽屉组件位于关闭状态时，第二门板遮挡进出口，载板用于放置测试治具。本实用新型提供的芯片温度测试装置，测试内腔的温度变化较小，测试效率较高；测试内腔与外界空气接触的时间较短，因此结霜问题可以得到很大的缓解；在取放芯片时，操作人员无需将手伸入至测试内腔操作，降低了操作人员冻伤风险。
主权项：1.一种芯片温度测试装置，其特征在于，包括：测试治具，用于放置并测试芯片；温度测试箱，具有保持在预定温度的测试内腔，且所述温度测试箱开设有连通所述测试内腔的进出口；抽屉组件，能够在所述进出口处滑动，所述抽屉组件包括第一门板、第二门板以及连接所述第一门板和所述第二门板的载板，在所述抽屉组件位于打开状态时，所述第一门板遮挡所述进出口，在所述抽屉组件位于关闭状态时，所述第二门板遮挡所述进出口，所述载板用于放置所述测试治具；驱动机构，用于驱动所述抽屉组件相对所述温度测试箱滑动。
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权利要求：
百度查询： 昆山思特威集成电路有限公司 芯片温度测试装置
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