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申请/专利权人：北京理工大学唐山研究院;北京理工大学
申请日：2024-09-05
公开（公告）日：2024-12-06
公开（公告）号：CN119087495A
专利技术分类：
专利摘要：本发明涉及位置测量技术的领域，尤其是涉及一种带电微颗粒的定位装置，其包括支撑框架和电场强度计，电场强度计至少设置有四个，电场强度计设置于支撑框架的顶点上。本发明中带电微颗粒的定位装置实现了带电微颗粒的定位以及带电量测量，解决了目前带电微颗粒路径追踪对光线的依赖问题，简化了测量装置，提高了测量装置的操作便捷性。
专利权项：1.一种带电微颗粒的定位装置，其特征在于：包括支撑框架1和电场强度计2，电场强度计2至少设置有四个，电场强度计2设置于支撑框架1的顶点上。
百度查询： 北京理工大学唐山研究院 北京理工大学 带电微颗粒的定位装置
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