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环栅器件及其外延方法专利

发布时间:2024-12-26 13:39:34 来源:龙图腾网 导航: 龙图腾网> 最新专利技术> 环栅器件及其外延方法

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申请/专利权人:复旦大学

申请日:2023-06-21

公开(公告)日:2024-12-24

公开(公告)号:CN119181641A

专利技术分类:......带有绝缘栅的[2006.01]

专利摘要:本发明提供一种环栅器件及其外延方法,方法包括:S1,提供一衬底,在垂直于衬底的方向上形成交替堆叠的N层沟道层和N层鳍片层;S2,基于衬底和鳍片层进行第一次外延生长,以形成底部种子层和岛状种子层;底部种子层生成于衬底的表面,岛状种子层形成于N层鳍片层的表面;S3,刻蚀底部种子层和岛状种子层,以消除未与底部种子层合并的岛状种子层;S4,基于底部种子层和鳍片层进行第M次外延生长,以使底部种子层增厚,以合并暴露于底侧的岛状种子层,M和N均为任意大于1的整数;S5,交替重复S3‑S4,直至底部种子层与位于顶侧的岛状种子层合并,以形成源极外延层和漏极外延层。该方法用于形成无错位或空隙的源漏外延,提升环栅器件的质量。

专利权项:1.一种环栅器件的源漏外延方法,其特征在于,包括:S1,提供一衬底,在垂直于所述衬底的方向上形成交替堆叠的N层沟道层和N层鳍片层,N为任意大于1的整数;S2,基于所述衬底和所述鳍片层进行第一次外延生长,以形成底部种子层和岛状种子层;所述底部种子层生成于所述衬底的表面,所述岛状种子层形成于所述N层鳍片层的表面;S3,刻蚀所述底部种子层和所述岛状种子层,以消除未与所述底部种子层合并的岛状种子层;S4,基于所述底部种子层和所述鳍片层进行第M次外延生长,以使所述底部种子层增厚,以合并暴露于底侧的岛状种子层,M为任意大于1的整数;S5,交替重复S3-S4,直至所述底部种子层与位于顶侧的岛状种子层合并,以形成源极外延层和漏极外延层。

百度查询: 复旦大学 环栅器件及其外延方法

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