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反应腔预处理方法及半导体设备专利

发布时间:2025-01-21 13:18:26 来源:龙图腾网 导航: 龙图腾网> 最新专利技术> 反应腔预处理方法及半导体设备

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申请/专利权人:粤芯半导体技术股份有限公司

申请日:2024-09-05

公开(公告)日:2025-01-17

公开(公告)号:CN119320936A

专利技术分类:..向反应室输入气体或在反应室中改性气流的方法[2006.01]

专利摘要:本申请提供一种反应腔预处理方法及半导体设备,涉及半导体技术领域,解决了相关技术中晶圆刻蚀过程中硅槽深度不均匀的问题,本方案通过对反应腔的预处理,提升介电窗温度的同时还可以清洁反应腔,使得反应腔的介电窗温度达到目标温度,从而为晶圆上的硅刻蚀提供合适的温度,使得刻蚀时晶圆的硅槽深度稳定在正常范围内,有助于保持刻蚀过程中硅槽深度的均匀性。

专利权项:1.一种反应腔预处理方法,其特征在于,应用于半导体设备中,所述反应腔预处理方法包括:在设备启动后,在反应腔处于空闲状态的情况下,将所述反应腔的气压调节至第一预设压强以及将等离子体刻蚀功率调节至第一预设功率以对所述反应腔进行加热,并向所述反应腔通入第一清洁气体,直至所述反应腔的介电窗温度达到目标温度;将所述反应腔的气压调节至第二预设压强并维持所述反应腔的等离子体刻蚀功率,并将所述反应腔的气压维持第一预设时长,且在所述第一预设时长内向所述反应腔通入第一清洁气体以及保护气体,所述第二预设压强大于所述第一预设压强;在所述第一预设时长结束后,将所述反应腔的气压调节至第三预设压强、等离子体刻蚀功率调节至第二预设功率,并将所述反应腔的气压和等离子体刻蚀功率维持第二预设时长,且在所述第二预设时长内向所述反应腔通入第二清洁气体,所述第三预设压强小于所述第一预设压强,所述第二预设功率小于所述第一预设功率。

百度查询: 粤芯半导体技术股份有限公司 反应腔预处理方法及半导体设备

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