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申请/专利权人：龙芯中科技术股份有限公司
申请日：2023-07-19
公开（公告）日：2025-01-21
公开（公告）号：CN119335352A
专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]
专利摘要：本申请提供的老化测试电路、方法和芯片，属于芯片测试领域。所述电路包括：测试控制模块、传感器控制模块、温度识别与控制模块、加热散热模块、老炼控制模块、扫描链、老炼输出与传感器输出指示模块。通过在芯片的老化测试电路中加入结温测试功能的相关模块，从而使得在芯片老化测试的同时可以检测芯片的结温，并且基于结温来对芯片进行加热或散热，来控制在芯片老化测试过程中芯片老化的频率，避免了由于芯片温度过低或过高对于测试结果的影响，提高了芯片老化测试的准确性。
专利权项：1.一种老化测试电路，应用于芯片测试中，其特征在于，所述电路包括：测试控制模块、传感器控制模块、温度识别与控制模块、加热散热模块、老炼控制模块、扫描链、老炼输出与传感器输出指示模块；所述测试控制模块，用于响应于接收到的测试指令，向所述测试控制模块和所述传感器控制模块分别发送启动信号；所述传感器控制模块，用于响应于所述启动信号，向所述温度识别与控制模块发送传感器输出信号；所述温度识别与控制模块，响应于所述传感器输出信号，识别所述芯片的结温，并基于所述结温向所述加热散热模块发送结温加热散热使能信号，并向所述老炼输出与传感器输出指示模块发送结温输出信号；所述加热散热模块，用于响应于所述结温加热散热使能信号，对所述芯片进行加热或散热；所述老炼控制模块，用于响应于所述启动信号，向所述扫描链发送老炼控制信号；所述扫描链，用于对所述芯片的电路老化程度进行检测，并将所得到的老炼输出信号发送至所述老炼输出与传感器输出指示模块；所述老炼输出与传感器输出指示模块，用于对所述老炼输出信号和所述结温输出信号进行输出。
百度查询： 龙芯中科技术股份有限公司 老化测试电路、方法和芯片
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