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龙图腾网恭喜深圳西普尼精密科技股份有限公司申请的专利基于图像处理的手表等离子纳米膜的检测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119438145B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510041951.1，技术领域涉及：G01N21/552；该发明授权基于图像处理的手表等离子纳米膜的检测方法及装置是由李永忠设计研发完成，并于2025-01-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于图像处理的手表等离子纳米膜的检测方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于图像处理的手表等离子纳米膜的检测方法及装置，其中，基于图像处理的手表等离子纳米膜的检测方法通过光漂白效应激发处理和相位调制分析，对手表等离子纳米膜进行双偏振态光强数据采集，利用动态恢复特征和区域分割技术，选取光漂白深度最大点作为参考基准进行差分处理，实现了几何曲率效应与材料效应的精确解耦，从而准确评估纳米膜的本征性能。本发明技术方案能够有效解决手表曲面导致的非线性干涉问题，提供可靠的纳米膜质量检测结果。

本发明授权基于图像处理的手表等离子纳米膜的检测方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于图像处理的手表等离子纳米膜的检测方法，其特征在于，包括：在预设的入射角度范围内采集手表等离子纳米膜光漂白前后的双偏振态光强分布数据，所述双偏振态光强分布数据包括光漂白前的s偏振和p偏振强度数据以及光漂白后的s偏振和p偏振强度数据；所述在预设的入射角度范围内采集手表等离子纳米膜光漂白前后的双偏振态光强分布数据，包括：在样品表面形成间距为预设值的光漂白区域阵列，所述光漂白区域阵列包括多个独立的光漂白斑点；对所述光漂白区域阵列进行0-75度角度扫描，每隔5度采集一组偏振态光强数据，获得光漂白前的原始光强数据；对所述光漂白区域阵列进行光漂白激发，按照与所述0-75度角度扫描相同的角度步进方式进行扫描，采集所述光漂白区域阵列的偏振态光强数据，获得光漂白后的激发态光强数据；根据所述原始光强数据和所述激发态光强数据进行偏振态分离，得到光漂白前的s偏振强度数据和p偏振强度数据；根据所述激发态光强数据进行偏振态分离，得到光漂白后的s偏振强度数据和p偏振强度数据；将所述光漂白前的s偏振和p偏振强度数据以及光漂白后的s偏振和p偏振强度数据组合成双偏振态光强分布数据；所述光漂白激发，是指用更高强度的激光照射使材料进入光漂白状态，在所述光漂白状态下，材料的等离子体共振效应被显著抑制，而表面的几何特征保持不变；对所述双偏振态光强分布数据进行相位调制，在预设的相位范围内记录相位-强度响应曲线，经傅里叶变换处理得到表征局部等离子体共振特性的振幅-相位特征数据；基于所述双偏振态光强分布数据和所述振幅-相位特征数据，提取光漂白区域的动态恢复特征，根据所述动态恢复特征的空间分布规律生成区域分割特征图谱；根据所述区域分割特征图谱，选取各区域内的光漂白深度最大点作为参考基准，将区域内其他点的光学响应与所述参考基准进行差分处理，得到消除几何曲率影响的纯材料效应分布数据；所述根据所述区域分割特征图谱，选取各区域内的光漂白深度最大点作为参考基准，将区域内其他点的光学响应与所述参考基准进行差分处理，得到消除几何曲率影响的纯材料效应分布数据，包括：对所述区域分割特征图谱中的每个区域进行光强梯度计算，获得区域内的光漂白深度分布数据；根据所述光漂白深度分布数据对每个区域进行极值点检测，筛选光漂白深度最大的候选点集；对所述候选点集中的每个点进行局部曲率计算，得到候选点的曲率特征数据；根据所述曲率特征数据对所述候选点集进行优选，确定各区域内的最终参考基准点；将所述区域内其他点的光强数据与所述参考基准点的光强数据进行比值运算，得到归一化光强分布数据；对所述归一化光强分布数据进行曲率补偿处理，生成消除几何曲率影响的纯材料效应分布数据；对所述纯材料效应分布数据中的特征参数进行降维处理，提取表征等离子体共振特性的主要特征分量，获得性能评估数据；根据所述性能评估数据建立区域性能参数的空间分布关系，生成表征纳米膜本征性能的定量检测结果。

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