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龙图腾网恭喜北京林电伟业电子技术有限公司申请的专利一种基于机器学习的荧光显微镜校准系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119540311B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510073039.4，技术领域涉及：G06T7/33；该发明授权一种基于机器学习的荧光显微镜校准系统是由祝天宇;孔维恒;张玲;朱娟;李江丽;黄楷平设计研发完成，并于2025-01-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于机器学习的荧光显微镜校准系统在说明书摘要公布了：本发明涉及光学仪器校准技术领域，尤其涉及一种基于机器学习的荧光显微镜校准系统，包括：成像数据采集模块，用以采集标准样本的原始成像数据和标准样本的目标成像数据，设备数据采集模块，用以采集成像环境数据和荧光显微镜的设备数据，样本数据处理模块，用以对标准样本的原始成像数据和标准样本的目标成像数据进行处理，样本数据分析模块，用以对目标成像数据的成像状态进行分析，成像质量分析模块，对成像质量进行分析，设备异常分析模块，用以对设备异常性进行分析，校准模块，用以生成荧光显微镜的校准方案。本发明有效提高了荧光显微镜的校准效率和校准准确性。

本发明授权一种基于机器学习的荧光显微镜校准系统在权利要求书中公布了：1.一种基于机器学习的荧光显微镜校准系统，其特征在于，包括：成像数据采集模块，用以采集标准样本的原始成像数据和标准样本的目标成像数据；设备数据采集模块，用以采集成像环境数据和荧光显微镜的设备数据；样本数据处理模块，用以对标准样本的原始成像数据和标准样本的目标成像数据进行处理，以得到原始标准数据、目标图像参数、原始处理图像和目标处理图像；样本数据分析模块，用以根据目标图像参数对目标成像数据的成像状态进行分析；成像质量分析模块，用以根据目标成像数据的成像状态分析结果和目标处理图像对目标成像数据的清晰度和光强异常性进行分析，并根据分析结果对目标成像数据的成像质量进行分析；设备异常分析模块，用以根据荧光显微镜的设备数据对设备异常性进行分析；校准模块，用以根据目标成像数据的成像质量分析结果和荧光显微镜的设备异常性分析结果生成荧光显微镜的校准方案；所述成像质量分析模块包括图像光强分析单元，所述图像光强分析单元用以将原始处理图像和目标处理图像进进行灰度化，并在目标成像数据的成像状态为正常时，计算光强差值指数gz，此时，若gz超出预设光强差值指数GZ，所述图像光强分析单元判定目标成像数据的光强异常；反之，则判定目标成像数据的光强正常；所述成像质量分析模块还包括环境光强分析单元，所述环境光强分析单元用以根据成像环境数据和荧光显微镜的设备数据对环境光照异常性进行分析，环境光照异常性分析结果包括正常和异常，并在环境光照异常时，将预设光强差值指数调整为GZ’；所述成像质量分析模块还包括曝光分析单元，所述曝光分析单元用以根据目标成像数据的曝光时长t对曝光异常性进行分析，曝光异常性的分析结果包括正常、第一异常和第二异常，并在第一异常时，将预设干扰光强优化为YQ’；在第二异常时，将预设干扰光强优化为YQ”。

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