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龙图腾网恭喜上海泰矽微电子有限公司;南京泰矽微电子有限公司申请的专利一种芯片测试模式切换方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114415001B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111537276.X，技术领域涉及：G01R31/3185；该发明授权一种芯片测试模式切换方法及系统是由潘明方;陈立新;熊海峰设计研发完成，并于2021-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试模式切换方法及系统在说明书摘要公布了：本申请实施例涉及一种芯片测试模式切换方法及系统，应用于芯片中的监测单元，方法包括通过第一功能引脚获取测试模式数据并将测试模式数据与预设置的第一数据进行匹配；匹配成功后通过第二功能引脚接收测试模式选择数据并解析，得到测试模式选择类型数据以及根据测试模式选择类型数据引导芯片进入对应的测试模式；在芯片进入到测试模式后，监测单元由开启状态转为关闭状态，测试完成后，监测单元由关闭状态转为开启状态，第一功能引脚和第二功能引脚可以复用为测试模式下的测试引脚。本申请实施例提供的芯片测试模式切换方法及系统，能够在不增加芯片引脚的前提下使芯片能够准确的进入到测试模式并能够在测试模式中稳定运行。

本发明授权一种芯片测试模式切换方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试模式切换方法，应用于芯片中的监测单元并复用芯片的两个功能引脚，其特征在于，包括：响应于通过第一功能引脚得到的时钟信号，通过第一功能引脚获取测试模式数据并将测试模式数据与预设置的第一数据进行匹配；测试模式数据与预设置的第一数据匹配成功后，通过第二功能引脚接收测试模式选择数据；对测试模式选择数据进行解析，得到测试模式选择类型数据；根据测试模式选择类型数据引导芯片进入对应的测试模式；在芯片进入到测试模式后，监测单元由开启状态转为关闭状态；以及在测试完成后，响应于获取到的复位指令，监测单元由关闭状态转为开启状态；其中，进入测试模式之后，第一功能引脚和第二功能引脚可以复用为测试模式下的测试引脚；复位指令区别于正常测试引脚时序中出现的时序，测试模式选择数据产生于测试模式数据的时钟沿。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海泰矽微电子有限公司;南京泰矽微电子有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区郭守敬路498号8幢19号楼3层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。