买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜河钢数字技术股份有限公司;雄安威赛博智能科技有限公司;河北沃享信息技术有限公司申请的专利涂层缺陷检测方法、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119666869B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510179980.4，技术领域涉及：G01N21/91；该发明授权涂层缺陷检测方法、电子设备及存储介质是由葛春红;郝亮;明勇杰;张帅;张丛灿;储紫薇;韩汝珩;邢政设计研发完成，并于2025-02-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本涂层缺陷检测方法、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种涂层缺陷检测方法、电子设备及存储介质。该方法包括：将荧光粉末均匀混合于涂层粉末中，并将混合后的混合粉末熔覆于基体表面，形成待测涂层；对待测涂层进行逐点探测，得到待测涂层上每一探测点位对应的实测荧光光谱；根据各探测点位对应的实测荧光光谱和预设的标准荧光光谱，判断各探测点位是否为缺陷点位，以及缺陷点位的缺陷类型；若缺陷类型为表观质量缺陷，则确定缺陷点位对应的涂层质量缺失值，并基于涂层质量缺失值对缺陷点位进行修复。本发明能够提升涂层表面缺陷的检测效率和检测精度。

本发明授权涂层缺陷检测方法、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种涂层缺陷检测方法，其特征在于，包括：将荧光粉末均匀混合于涂层粉末中，并将混合后的混合粉末熔覆于基体表面，形成待测涂层；对所述待测涂层进行逐点探测，得到所述待测涂层上每一探测点位对应的实测荧光光谱；根据各探测点位对应的实测荧光光谱和预设的标准荧光光谱，分别检测所述实测荧光光谱中的实测荧光发射波长，与所述标准荧光光谱中的标准荧光发射波长是否一致，以及所述实测荧光光谱中的实测荧光波峰位置，与所述标准荧光光谱中的标准荧光波峰位置是否一致；若所述实测荧光发射波长与所述标准荧光发射波长不一致，则确定所述探测点位为缺陷点位，且缺陷点位的缺陷类型为表观质量缺陷；若所述实测荧光波峰位置与所述标准荧光波峰位置不一致，则确定所述探测点位为缺陷点位，且缺陷点位的缺陷类型为表观杂质缺陷；若所述实测荧光发射波长与所述标准荧光发射波长一致，且所述实测荧光波峰位置与所述标准荧光波峰位置一致，则确定所述探测点位为正常点位；若所述缺陷类型为表观质量缺陷，则确定所述缺陷点位对应的涂层质量缺失值，并基于所述涂层质量缺失值对所述缺陷点位进行修复。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人河钢数字技术股份有限公司;雄安威赛博智能科技有限公司;河北沃享信息技术有限公司，其通讯地址为：050000 河北省石家庄市高新区中山东路856号科技创新服务中心1号楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。