恭喜安拓锐高新测试技术(苏州)有限公司张龙获国家专利权
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龙图腾网恭喜安拓锐高新测试技术(苏州)有限公司申请的专利半导体测试插座获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114724968B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110013375.1,技术领域涉及:H01L21/66;该发明授权半导体测试插座是由张龙;卓春丽;陈金荣设计研发完成,并于2021-01-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体测试插座在说明书摘要公布了:本发明涉及半导体封装测试领域,公开了一种半导体测试插座,其中,半导体测试插座包括测试插座主体10、导向框20和高度调节机构30,导向框安装于测试插座主体上方并具有中心插口21,高度调节机构嵌设在中心插口的边缘处,高度调节机构包括能够被操作的操作部31和能够通过操作操作部而在定位于中心插口之外的第一位置和定位于中心插口之内的第二位置之间移动的移动部32,移动部包括用于在第二位置时支撑待测试件的支撑面321。根据不同类型的封装的待测试件,可以使其选择性地支撑在处于第二位置时的支撑面上或测试插座主体的顶面上,无需更换测试插座,提高了效率。
本发明授权半导体测试插座在权利要求书中公布了:1.一种半导体测试插座,其特征在于,所述半导体测试插座包括测试插座主体10、导向框20和高度调节机构30,所述导向框20安装于所述测试插座主体10上方并具有中心插口21,所述高度调节机构30嵌设在所述中心插口21的边缘处,所述高度调节机构30包括能够被操作的操作部31和能够通过操作所述操作部31而在定位于所述中心插口21之外的第一位置和定位于所述中心插口21之内的第二位置之间移动的移动部32,所述移动部32包括用于在所述第二位置时支撑待测试件的支撑面321; 所述导向框20设置有沿高度方向设置的通孔22,所述操作部31设置为能够经由所述通孔22被接触,以从外部被操作; 所述中心插口21为矩形,所述中心插口21的四个角部分别设置有所述高度调节机构30; 所述移动部32包括彼此呈直角设置的第一支撑边322和第二支撑边323以及连接所述第一支撑边322和第二支撑边323的移动块324,所述移动块324设置为能够沿所述高度调节机构30所在的角部的对角线移动; 所述操作部31包括驱动块311和连接于所述驱动块311的滑块312,所述驱动块311可转动地设置在所述通孔22内,所述滑块312偏离所述驱动块311的转动轴线设置,所述移动块324上设置有滑槽324a,所述滑块312可转动地与所述滑槽324a滑动配合。
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