四川星利石大涂装材料有限公司周玉丰获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
龙图腾网获悉四川星利石大涂装材料有限公司申请的专利基于TG和IRE-2的涂层基料发射率测试方法和系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120123857B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510594212.5,技术领域涉及:G06F18/2411;该发明授权基于TG和IRE-2的涂层基料发射率测试方法和系统是由周玉丰;李彬;倪正熙;谢忠强;杨汉中;付能武设计研发完成,并于2025-05-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于TG和IRE-2的涂层基料发射率测试方法和系统在说明书摘要公布了:本发明属于材料检查技术领域,具体涉及一种基于TG和IRE‑2的涂层基料发射率测试方法和系统。先由TG发射率测量仪采集涂层基料目标区域全波段发射率数据并生成曲线,标记敏感波段。判断敏感波段在IRE‑2测量仪可测范围内后,获取其采集的双波段发射率数据。对全波段及双波段数据进行线性回归分析得到映射关系模型,以此为核函数建立SVM神经网络模型。最终利用IRE‑2实时采集数据输入模型输出涂层基料的全波段发射率。该方法能精准确定敏感波段,通过双波段测量结合模型预测全波段发射率,提高测量效率与准确性。
本发明授权基于TG和IRE-2的涂层基料发射率测试方法和系统在权利要求书中公布了:1.一种基于TG和IRE-2的涂层基料发射率测试方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:获取TG发射率测量仪采集的所述涂层基料上的目标区域在实验室条件下的全波段发射率数据; S2:利用所述全波段发射率数据生成对应的全波段发射率曲线; S3:标记所述全波段发射率曲线的吸收峰所对应的敏感波段; S4:判断所述敏感波段是否位于IRE-2双波段发射率测量仪的可测量波段范围内;若是,则执行S5;若否,则重新确定所述涂层基料上的目标区域,返回所述S1; S5:获取所述IRE-2双波段发射率测量仪采集的所述目标区域在所述实验室条件下的第一波段发射率数据和第二波段发射率数据; S6:对所述全波段发射率数据、所述第一波段发射率数据和所述第二波段发射率数据进行线性回归分析,得到映射关系模型; S7:以所述映射关系模型为核函数建立SVM神经网络模型; S8:获取所述IRE-2双波段发射率测量仪实时采集的第一波段发射率现场数据和第二波段发射率现场数据; S9:将所述第一波段发射率现场数据和所述第二波段发射率现场数据输入训练好的SVM神经网络模型,输出所述涂层基料的全波段发射率。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人四川星利石大涂装材料有限公司,其通讯地址为:620031 四川省眉山市高新技术产业园区金茂路3号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。