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申请/专利权人：上海市计量测试技术研究院
申请日：2012-03-31
公开（公告）日：2012-07-25
公开（公告）号：CN102608558A
专利技术分类：
专利摘要：本发明公开了一种辐射场均匀性校验定位装置，其包括垂直连杆、底板、水平连杆、水平套筒；所述垂直连杆，底端固定在所述底板上；所述水平套筒，套设在所述垂直连杆外部，能沿所述垂直连杆轴向滑动；所述水平套筒和或所述垂直连杆上设置有轴向定位机构，用于所述水平套筒在所述垂直连杆轴向上固定；所述水平连杆，一端固定在所述水平套筒上并垂直于所述垂直连杆，另一端用于固定电场探头；所述水平连杆的横截面积比所述垂直连杆的横截面积小。本发明的辐射场均匀性校验定位装置，能提高提高辐射场均匀性测试结果的准确性，并提高辐射场均匀性校验定位操作的效率、准确性。
专利权项：一种辐射场均匀性校验定位装置，其特征在于，包括垂直连杆、底板、水平连杆、水平套筒；所述垂直连杆，底端固定在所述底板上；所述水平套筒，套设在所述垂直连杆外部，能沿所述垂直连杆轴向滑动；所述水平套筒和或所述垂直连杆上设置有轴向定位机构，用于所述水平套筒在所述垂直连杆轴向上固定；所述水平连杆，一端固定在所述水平套筒上并垂直于所述垂直连杆，另一端用于固定电场探头；所述水平连杆的横截面积比所述垂直连杆的横截面积小。
百度查询： 上海市计量测试技术研究院 辐射场均匀性校验定位装置
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