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申请/专利权人：BEB工业电子股份公司
申请日：2006-05-05
公开（公告）日：2010-12-01
公开（公告）号：CN101180513B
专利技术分类：..用于计量厚度[2006.01]
专利摘要：本发明涉及一种设备，该设备的基本特征在于：当通过导向元件1，2输送平面物体、尤其是有价票据时，由具有导电元件7的一个或者多个平面空心线圈6对一个或者多个第二导向元件2相对于第一导向元件1的偏移进行检测。由此产生磁交变场，该磁交变场受到导电元件7的位置变化的影响。所述交变场在导电元件7中产生涡流，该涡流又反过来影响交变场。当平面线圈作为LC振荡电路的组成元件时，该振荡电路的共振频率和衰减特性受到影响。在激励频率恒定不变时，振荡振幅发生变化。
专利权项：一种设备，该设备用于测量平面物体3的厚度或者厚度变化，该设备包括：至少一个第一导向元件1和多个第二导向元件2，在第一导向元件1和第二导向元件2之间输送所述平面物体，其中，所述第二导向元件2位于所述第一导向元件1的对面，并且所述多个第二导向元件2互相并排安置成一行，因此在所述导向元件1，2之间穿过的平面物体的厚度变化导致一个或者多个第二导向元件2相对于第一导向元件1发生偏移；多个平面线圈6，6a，6b，其中为每个第二导向元件2配置一个平面线圈；以及用于激励平面线圈6，6a，6b来产生磁交变场的组件；多个导电元件7，其中每个所述第二导向元件2直接或者间接地与该导电元件7刚性地连接在一起，并且所述第二导向元件2的偏移导致相应的导电元件7发生偏移；运算电子器件8，用来检测所述导电元件7对于所述平面线圈6的磁交变场的影响，其中所述平面线圈6制作成空心线圈，其中所述平面线圈6，6a，6b的放置使得所述平面线圈6，6a，6b的覆盖面随着所述导电元件7与所述平面线圈6，6a，6b之间的距离的减少而增大。
百度查询： BEB工业电子股份公司 检测厚度和厚度变化的设备
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