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申请/专利权人:日立化成株式会社
申请日:2012-07-18
公开(公告)日:2014-03-26
公开(公告)号:CN103688367A
专利技术分类:..以其形状或以多个半导体区域的形状、相关尺寸或配置为特征的[2006.01]
专利摘要:本发明的目的在于,在具有选择性发射极结构的太阳能电池中,抑制电极正下方的n型杂质浓度较高的n+型扩散层与电极间的位置偏差。本发明提供一种太阳能电池基板、一种太阳能电池基板的制造方法、一种太阳能电池元件及一种太阳能电池。所述太阳能电池基板为包括n型扩散层、及比上述n型扩散层的n型杂质浓度高的n+型扩散层,且在上述n+型扩散层的表面具有凹部的半导体基板。
专利权项:一种太阳能电池基板,其是具有n型扩散层和n+型扩散层的半导体基板,所述n+型扩散层的n型杂质浓度高于所述n型扩散层的n型杂质浓度,且在所述n+型扩散层的表面具有凹部。
百度查询: 日立化成株式会社 太阳能电池基板、太阳能电池基板的制造方法、太阳能电池元件及太阳能电池
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