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申请/专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日：2007-07-02
公开（公告）日：2013-11-06
公开（公告）号：CN101578535B
专利技术分类：.对辐射束流的测量，例如，测量射束位置或截面；辐射的空间分布的测量[2006.01]
专利摘要：一种计算机断层摄影系统包括X射线源108，该X射线源围绕成像区域116旋转并且发射穿过成像区域116的辐射。至少一个有限能量分辨率探测器112探测所发射的辐射。所述至少一个有限分辨率探测器112包括多个子探测器204。所述多个子探测器204中的每个均与一个或多个不同能量阈值相关联。所述能量阈值中的每个用于基于相应能量水平对入射光子的数量进行计数。重建系统136重建光子计数以生成位于成像区域116内的对象的一个或多个图像。
专利权项：一种计算机断层摄影系统100，包括：X射线源108，其围绕成像区域116旋转并且发射穿过所述成像区域116的辐射；至少一个有限能量分辨率探测器112，其探测所发射的辐射，其中所述至少一个有限能量分辨率探测器112包括多个子探测器204，其中每个子探测器与一个或多个不同能量阈值相关联并且每个能量阈值用于对与能量范围相对应的入射光子的数量进行计数，其中，所述多个子探测器204中的至少一个包括碲锌镉材料；和重建系统136，其重建光子计数以生成位于所述成像区域116内的对象的一个或多个图像，其中，对不同子探测器204设置不同阈值。
百度查询： 皇家飞利浦电子股份有限公司 能谱重建
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