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申请/专利权人：东芝三菱电机产业系统株式会社

申请日：2007-06-18

公开（公告）日：2014-12-03

公开（公告）号：CN102253120B

专利技术分类：.固体分析（利用声发射技术入G01N29/14）[2006.01]

专利摘要：本发明提供一种组织材质测定装置及组织材质测定方法，通过除去被测材料的表面附着的氧化膜，来确实地实施无损结晶粒径测量。为此在测定时，首先，向从超声波检测器对轧制产品的另一侧表面照射激光的照射位置，从表面除去装置照射激光，除去轧制产品的另一侧表面的氧化膜。除去了轧制产品的另一侧表面的氧化膜后，从超声波振荡器对轧制产品的一侧表面照射激光，使得在轧制产品的另一侧表面发生超声波振荡。然后，通过从超声波检测器对轧制产品的另一侧表面照射激光，并利用超声波检测器接收来自轧制产品的另一侧表面的反射光，从而检测在轧制产品的另一侧表面发生的超声波振荡，根据超声波检测器的检测结果，算出轧制产品的结晶粒径。

专利权项：一种组织材质测定系统，其特征在于，包括：组织材质测定装置27，设在轧制线的轧机的出口侧以及卷取机前，对经过所述轧制线的轧制产品的组织材质信息进行测定，该组织材质测定装置27包括：对所述轧制产品的一侧表面照射激光而使得在所述轧制产品的另一侧表面发生超声波振荡的超声波振荡器2、通过对所述轧制产品的另一侧表面照射激光并接收来自所述轧制产品的另一侧表面的反射光从而检测在所述轧制产品的另一侧表面发生的超声波振荡的超声波检测器3、与所述超声波检测器3相连接且接收来自所述超声波检测器3的检测信号并对所接收的检测信号进行处理以计算出所述轧制产品的结晶粒径的信号处理装置4、根据所述信号处理装置4的处理结果来算出所述轧制产品的结晶粒径的粒径计算装置5、以及向从所述超声波检测器3对所述轧制产品的另一侧表面照射激光的照射位置照射激光来除去所述轧制产品另一侧表面的氧化膜的表面除去装置6；组织材质信息采集装置28，采集由所述组织材质测定装置27测定的组织材质信息；组织材质信息实测装置26，实测所述轧制产品的组织材质信息；工艺流程数据采集装置31，采集所述轧制线的工艺流程数据；组织材质信息预测装置32，基于由所述工艺流程数据采集装置31采集的工艺流程数据，根据预定的组织材质预测模型，算出所述轧制产品的组织材质信息；第一组织材质信息比较装置29，对由所述组织材质信息采集装置28采集的组织材质信息、与所述组织材质信息实测装置26得到的实测值进行比较，并将该比较结果反馈到所述组织材质信息采集装置28，用于所述组织材质测定装置27的校正或精度确认；第二组织材质信息比较装置33，对由所述组织材质信息采集装置28采集的组织材质信息、与由所述组织材质信息预测装置32算出的组织材质信息进行比较；机械性质预测装置34，基于由所述工艺流程数据采集装置31采集的工艺流程数据和由所述组织材质信息采集装置28采集的组织材质信息，根据预定的预测模型，算出所述轧制产品的机械性质；机械性质实测装置25，实测所述轧制产品的机械性质；以及机械性质比较装置35，对由所述机械性质预测装置34算出的机械性质、与所述机械性质实测装置25得到的实测值进行比较，所述组织材质测定装置27根据预定的辨识手法，算出所述轧制产品的结晶粒径，并且基于所述第一组织材质信息比较装置29的比较结果，对所述辨识手法的参数进行调整，所述组织材质信息预测装置32基于所述第二组织材质信息比较装置33的比较结果，对所述组织材质预测模型进行调整，所述机械性质预测装置34基于所述机械性质比较装置35的比较结果，对所述预测模型进行调整。

百度查询： 东芝三菱电机产业系统株式会社 组织材质测定装置及组织材质测定方法