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申请/专利权人：基斯特勒控股公司
申请日：2013-06-20
公开（公告）日：2017-02-08
公开（公告）号：CN104395720B
专利技术分类：.利用压电器件的性质[2006.01]
专利摘要：本发明涉及一种由对称型32的压电晶体制成的测量元件，用于测量垂直作用于x‑y平面上的力Fz，其中，力Fz导致在测量元件的接受力的表面5，5′上发生电荷集聚。在实际应用中需要进行测量，在测量时，正交于力Fz的横向力Fxy在测量体2上是可预期的，横向力在测量元件上产生误差信号。根据本发明，测量元件由至少四个、优选八个相同类型的测量元件区段7构成，所述测量元件区段具有直的侧面8，8′，其中，所述区段7在所述x‑y平面中相互接近地并排设置，并在所述侧面8，8′上通过狭窄的间隙9彼此间隔开，其中，所述区段一起构成圆盘或有孔圆盘10的形状，以减少由横向力Fxy在测量元件上引起的干扰信号。此外，晶体方向11在所有区段7的x‑y平面中沿相同的方向或彼此正交地取向。
专利权项：一种测量元件，由对称型32的压电晶体制成，所述测量元件在x‑y平面中被设计为平的，以安装在测量体2中用于测量垂直于所述x‑y平面作用的力Fz，其中，力Fz导致在所述测量元件的接受力的表面5，5′上发生电荷集聚，所述表面配置有电极6，6′，其中，在测量时，在所述测量体2上正交于所述力Fz的横向力Fxy是可预期的，所述横向力在所述测量元件上产生误差信号，其特征在于，所述测量元件由至少四个相同类型的测量元件区段7构成，所述测量元件区段具有直的侧面8，8′，其中，所述区段7在所述x‑y平面中相互接近地并排设置，并在所述侧面8，8′处通过狭窄的间隙9彼此间隔开，其中，所述区段一起构成圆盘或有孔圆盘10的形状，以减少由横向力Fxy在所述测量元件上引起的干扰信号，其中，晶体方向11在所有区段7的x‑y平面中沿相同的方向或彼此正交地取向。
百度查询： 基斯特勒控股公司 测量力的测量元件、测量体和测量装置以及这种测量体的应用
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