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申请/专利权人：夏普株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所
申请日：2019-06-28
公开（公告）日：2020-01-24
公开（公告）号：CN110726739A
专利技术分类：..并形成材料的图片[2018.01]
专利摘要：无损检测装置10包括X射线源11、检测X射线19的摄像面板14和遮蔽X射线的遮蔽板15，摄像面板14及遮蔽板15具有能够弯曲的可挠性。
专利权项：1.一种无损检测装置，其特征在于，包括：放射线源；摄像面板，其检测从所述放射线源射出并透过检测对象物的放射线；以及遮蔽板，其重叠配置在所述摄像面板的与所述放射线源相反一侧，用于遮蔽从所述摄像面板射出的放射线，所述摄像面板及所述遮蔽板具有能够弯曲的可挠性。
百度查询： 夏普株式会社 国立研究开发法人产业技术综合研究所 无损检测装置及无损检测方法
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