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DDR测试系统和DDR测试方法专利

发布时间:2020-04-27 15:52:12 来源:龙图腾网 导航: 龙图腾网> 最新专利技术> DDR测试系统和DDR测试方法

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申请/专利权人:深圳佰维存储科技股份有限公司

申请日:2019-12-30

公开(公告)日:2020-04-21

公开(公告)号:CN111044883A

专利技术分类:.电路的测试,例如用信号故障寻测器(在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22)[2006.01]

专利摘要:本发明公开了一种DDR测试系统和DDR测试方法,其中DDR测试系统包括测试终端、处理模块、控制模块和上料模块;控制模块用于控制上料模块上料以及向处理模块发送启动测试指令;处理模块用于完成对测试终端的上电操作;测试终端,用于对DDR芯片进行功能测试,并向处理模块发送反馈信号;处理模块还用于将测试结果发送给控制模块;控制模块还用于根据测试结果控制上料模块对DDR芯片进行分类。本发明实施例与现有技术相比测试效率更高,且节约了大量人力。

专利权项:1.一种DDR测试系统,其特征在于,包括测试终端、处理模块、控制模块和上料模块;所述控制模块,用于控制所述上料模块将待测试的DDR芯片放置在所述测试终端上,并在完成上料操作后,向所述处理模块发送启动测试指令;所述处理模块,用于根据所述启动测试指令完成对所述测试终端的上电操作;所述测试终端,用于对待测试的所述DDR芯片进行功能测试,并根据所述功能测试的结果向所述处理模块发送反馈信号;所述处理模块,还用于根据所述反馈信号判定DDR芯片的测试结果,并将所述测试结果进行协议转换后发送给所述控制模块;所述控制模块,还用于根据所述测试结果控制所述上料模块对所述DDR芯片进行分类。

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