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申请/专利权人：株式会社岛津制作所
申请日：2020-04-30
公开（公告）日：2020-12-25
公开（公告）号：CN112129792A
专利技术分类：.利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射[2018.01]
专利摘要：本发明提供一种试样解析系统、试样解析装置以及试样解析方法。物质信息DB50存储预先被制作成数据库的多个物质的信息。关联物质名称DB60存储规定的类型石棉、粘土矿物等中包括的多个关联物质的名称。处理装置30构成为：从物质信息DB50中存储的多个物质的信息中提取具有关联物质名称DB60中存储的关联物质的名称的物质的信息，通过将X射线衍射装置10的测定结果与被提取的该物质信息进行对照，来进行试样的定性分析。
专利权项：1.一种试样解析系统，具备：X射线衍射装置；以及解析装置，其构成为基于由所述X射线衍射装置测定出的衍射X射线来进行试样的定性分析，其中，所述解析装置包括：第一存储部，其存储预先被制作成数据库的多个物质的信息；第二存储部，其存储规定的类型中包括的多个关联物质的名称；以及处理装置，其构成为：从存储在所述第一存储部中的多个物质的信息中提取具有存储在所述第二存储部中的关联物质的名称的物质的信息，通过将所述X射线衍射装置的测定结果与被提取的该物质的信息进行对照，来进行所述试样的定性分析。
百度查询： 株式会社岛津制作所 试样解析系统、试样解析装置以及试样解析方法
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