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申请/专利权人：艾科菱株式会社
申请日：2015-10-15
公开（公告）日：2021-03-12
公开（公告）号：CN107077680B
专利技术分类：
专利摘要：一种鉴定系统，具备：摄像部，拍摄成为鉴定对象的商品；存储部，存储商品的正规品相关的商品信息；商品信息取得部，基于摄像部的摄像结果，取得存储在存储部中的商品信息；分析部，对构成商品的金属部分的成分进行分析；真贋判定部，基于商品信息取得部取得的商品信息中含有的金属部分的成分信息和分析部的分析结果，判定成为鉴定对象的商品的真贋。
专利权项：1.一种鉴定系统，具备：摄像部，拍摄成为鉴定对象的商品；存储部，存储商品的正规品相关的商品信息；商品信息取得部，基于所述摄像部的摄像结果，取得存储在所述存储部中的所述商品信息；分析部，对构成所述商品的金属部分的成分进行分析；真贋判定部，基于所述商品信息取得部取得的所述商品信息中含有的所述金属部分的成分信息和所述分析部的分析结果，判定所述成为鉴定对象的商品的真贋；显示器，用于显示有关所述成为鉴定对象的商品的所述真贋判定部的判定结果；操作部，接受对在所述显示器上显示所述判定结果的商品的所述商品信息进行补记的操作；以及更新部，通过由所述操作部接受对所述商品信息进行补记的操作，根据所接受的操作内容，针对显示在所述显示器上的商品，更新存储在所述存储部中的所述商品信息，所述分析部具备X射线照射装置，通过对所述成为鉴定对象的商品照射X射线，对构成所述商品的金属部分的成分进行分析，所述X射线照射装置能够通过驱动部移动，所述鉴定系统能够通过对所述摄像部的摄影图像进行图像识别处理，来指定为对成为鉴定对象的商品进行成分分析而应该照射X射线的位置，所述鉴定系统通过由所述驱动部驱动所述X射线照射装置的位置，从而对所述商品在所述应该照射的所述位置照射X射线。
百度查询： 艾科菱株式会社 鉴定系统以及鉴定方法
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