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申请/专利权人：马尔文帕纳科
申请日：2016-09-09
公开（公告）日：2021-10-12
公开（公告）号：CN108291861B
专利技术分类：.测试颗粒的粒度或粒经分布（G01N15/04，G01N15/10优先；通过测定渗透压力入G01N7/10）[2006.01]
专利摘要：一种表征样品106中的颗粒的方法。该方法包括：利用光束103照射样品池104中的样品106，以便通过光束103与样品106的相互作用产生散射光；从单个检测器110获得散射光的测量的时间序列；从来自单个检测器110的测量的时间序列，确定哪些测量是在大颗粒对散射光有贡献时所得到的；确定颗粒尺寸分布，包括校正由大颗粒散射的光。
专利权项：1.一种表征样品中的颗粒的方法，包括：利用光束照射样品池中的所述样品，以便通过所述光束与所述样品的相互作用产生散射光；从至少一个检测器获得所述散射光的测量的时间序列；从所述测量的时间序列确定哪些测量是在大颗粒对所述散射光有贡献时所得到的，其中，确定哪些测量是在大颗粒对所述散射光有贡献时所得到的，包括：将所述时间序列划分为多个较短的子进程，然后确定哪些子进程包括来自大颗粒的散射贡献的测量；从所述测量的时间序列确定颗粒尺寸分布，包括校正由所述大颗粒散射的光，其中，校正由所述大颗粒散射的光包括：排除或隔离用于单独分析在所述大颗粒对所述散射光有贡献时所发生的子进程；以及执行初始数量的子进程，其中，如果进一步子进程没有被排除，所述进一步子进程被记录并添加至先前测量直至从组合测量获得的平均数已满足收敛标准，所述收敛标准基于从所述组合测量获得的所述平均数在大量后续测量中改变的量。
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