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申请/专利权人：成都数之联科技股份有限公司

摘要：本发明公开了一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统，包括：根据每个产品的图案分别制作其线路模板图；获得产品A对应的输入图像X的特征点，获取输入图像X的特征图M；获得产品A对应的线路模板图B的特征点，基于提取的特征点，获取线路模板图B的特征图N；匹配特征图M和特征图N，基于匹配结果获得M在N中的位置，基于特征图M与特征图N的相对位置，获得输入图像X中所有线路的位置。本方法通过准确判断图像线路位置，结合图片缺陷位置，实现了线路的短路和断路的准确判定，提高了缺陷发现的准确率及效率，降低了缺陷进入下一个环节的风险，提升产线的产品良率，节约了判图的人力成本。

主权项：1.一种液晶面板array图像的线路提取方法，其特征在于，所述方法包括：根据每个产品的图案分别制作其线路模板图；获得产品A对应的AOI设备的输入图像X，提取输入图像X的特征点，基于提取的特征点获取输入图像X的特征图M；获得产品A对应的线路模板图B，提取线路模板图B的特征点，基于提取的特征点获取线路模板图B的特征图N；基于特征图M与特征图N的匹配结果得到特征图M在特征图N中的位置；基于特征图M与特征图N的相对位置，获得输入图像X中所有线路的位置；所述方法还包括：从AOI设备获取输入图像X中缺陷的类型和缺陷的坐标，基于缺陷的坐标位置与线路位置的运算结果判断缺陷是否引起线路相交或线路断线；缺陷的坐标位置与线路位置的运算包括：步骤1：由输入图像X的缺陷位置坐标P＝xi,yi,i＝1,2,...n，获得X的缺陷位置掩码图： 其中n为图像X的宽度，m为图像X的高度，ajk∈{0,1}，对于M′中的每一个ajk，对应的坐标如果在P组成的多边形内，则设置为1，否则置为0；步骤2：基于输入图像X在N中的位置及线路模板图得到线路位置掩码图步骤3：对缺陷位置掩码图M′和线路位置掩码图Ni，执行下列运算：计算M′与Ni的像素与掩码图Ri＝M′Ni即对每一个ajk∈M′，njk∈Ni，rjk∈Ri，执行rjk＝ajknjk；步骤4：根据Ri和M′判断线路是否相交或断线：a判断Ri与M′是否相交构造如果Ri中存在像素为1的点，则fi设置为1，否则为0；计算f： 如果f≥2，则判断线路相交；b判断Ri与M′是否断线构造ci，且其中ci为Ri中连通区域的个数；计算c： 如果c≥1，则判断线路断线。

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