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申请/专利权人：艾尔康系统有限责任公司

申请日：2020-10-19

公开（公告）日：2022-08-02

公开（公告）号：CN114846342A

专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]

专利摘要：面板损坏检测布置（1）包括至少两个非导电面板（2，3）。具有第一测试电阻（20）的第一测试导体（4）至少逐部分地附接到第一面板（2）的测试表面（7），使得可根据第一测试电阻（20）的增加来确定对第一面板（2）的机械损坏。具有第二测试电阻（21）的第二测试导体（5）至少逐部分地附接到第二面板（3）的测试表面（9），使得可根据第二测试电阻（21）的增加来确定对第二面板（3）的机械损坏。两个测试导体（4，5）的测量端（16，17）电连接，使得当具有高测试电势（11）的测试电压（13，32，34，36）被施加到第一测试导体（4）的源端（11）并且具有低测试电势（15）的测试电压被施加到第二测试导体（5）的源端（14）时，在两个测试导体（4，5）的两个测量端（16，17）处创建的公共测量电势（18，33，35，37）在第二面板（3）被机械损坏的情况下移位到较高的值，并且在第一面板（2）被机械损坏的情况下移位到较低的值。

专利权项：1.一种包括至少两个非导电面板（2，3）的面板损坏检测布置（1），其中具有第一测试电阻（20）的第一测试导体（4）至少逐部分地附接到第一面板（2）的测试表面（7），使得可根据第一测试电阻（20）的增加来确定对第一面板（2）的机械损坏，其中具有第二测试电阻（21）的第二测试导体（5）至少逐部分地附接到第二面板（3）的测试表面（9），使得可根据第二测试电阻（21）的增加来确定对第二面板（3）的机械损坏，其中两个测试导体（4，5）各自从源端（11，14）延伸到测量端（16，17），其中两个测试导体（4，5）的测量端（16，17）电连接，并且其中具有相应测试导体（4，5）的第一面板（2）和第二面板（3）形成测量单元（22，29，30，31），使得当具有高测试电势（11）的测试电压（13，32，34，36）被施加到第一测试导体（4）的源端（11）并且具有低测试电势（15）的测试电压被施加到第二测试导体（5）的源端（14）时，在两个测试导体（4，5）的两个测量端（16，17）处创建的公共测量电势（18，33，35，37）在第二面板（3）被机械损坏的情况下移位到较高的值，并且在第一面板（2）被机械损坏的情况下移位到较低的值。

百度查询： 艾尔康系统有限责任公司 面板损坏检测布置