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申请/专利权人：厦门紫光展锐科技有限公司
摘要：一种SDIO接口的测试方法及装置、存储介质、终端，SDIO接口测试方法包括：对SDIO接口进行初始化；至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整；按照多个调整后的时钟信号对所述SDIO接口的输入输出数据进行采样；将采样到的数据与预设数据进行比较，并输出比较结果。本发明技术方案能够安全高效地实现SDIO接口的测试。
主权项：1.一种SDIO接口测试方法，其特征在于，包括：对SDIO接口进行初始化；至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整；按照多个调整后的时钟信号对所述SDIO接口的输入输出数据进行采样；将采样到的数据与预设数据进行比较，并输出比较结果；所述至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整包括：按照多个不同的驱动强度对所述采样时钟信号和或所述输入输出数据进行调整；在每一驱动强度下，按照多个不同延时对所述采样时钟信号进行调整。
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权利要求：
百度查询： 厦门紫光展锐科技有限公司 SDIO接口的测试方法及装置、存储介质、终端
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