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申请/专利权人：中国计量大学
摘要：本发明公开了一种用磁隧道结自由层和参考层矫顽场平均值测量温度的方法，包括以下步骤：1利用电阻加热平台，测量磁隧道结自由层和参考层各自的矫顽场，再对其进行平均值处理得到最终矫顽场平均值随着温度变化的曲线；2计算得到温度矫顽场系数；3以室温T0＝23℃时的自由层和参考层矫顽场平均值作为基准矫顽场；以磁隧道结作为测温元器件进行测温。本发明采用上述的用磁隧道结自由层和参考层矫顽场平均值测量温度的方法，有效缓解磁畴不在理想的单畴状态导致的温度测量误差，使温度测量具有较高的精度和灵敏度。
主权项：1.一种用磁隧道结自由层和参考层矫顽场平均值测量温度的方法，其特征在于，包括以下步骤：1获得矫顽场平均值随着温度变化的曲线将磁隧道结置于电阻加热平台之上，以电阻加热平台作为加热源，使用Keithley2400测量磁电阻曲线；获得自由层易磁化轴的矫顽场：H1C＝H1P-AP-H1AP-P2，H1AP-P表示高电阻态向低电阻态转变的矫顽场，H1P-AP表示低电阻态向高电阻态转变矫顽场；获得参考层易磁化轴的矫顽场H2C＝H2P-AP-H2AP-P2，H2AP-P表示高电阻态向低电阻态转变的矫顽场，H2P-AP表示低电阻态向高电阻态转变矫顽场；自由层和参考层矫顽场平均值HC＝H1C-H2C2；2计算得到温度矫顽场系数温度矫顽场系数的计算方法为：电阻温度系数：ξ＝ΔHCΔT，ΔHC为磁隧道结自由层和参考层矫顽场平均值的变化，ΔT为电阻加热平台温度T-T0的变化；3以室温T0＝23℃时的自由层和参考层矫顽场平均值作为基准矫顽场；以磁隧道结作为测温元器件进行测温：a测量环境温度的变化，先测量磁隧道结自由层和参考层矫顽场平均值随着环境温度变化，采用的测量仪器为Keithley2400，接着计算得到环境温度的变化曲线，所采用的的计算方法为：T＝ΔHCξ+T0；b激光加热下的温度变化，采用的激光作为热源，以透镜聚焦在磁隧道结表面，测量在激光脉冲下自由层和参考层矫顽场平均值的变化，计算得到在激光加热下磁隧道结的温度变化。
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权利要求：
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