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申请/专利权人：深圳市硅格半导体有限公司
摘要：本发明涉及工业生产领域，公开了一种NandFalsh的质量评估方法、设备及存储介质。该方法包括：检测到ECC的二进制数据集时，根据预设Batchsize，将二进制数据集拆分为多组训练数据；基于多组训练数据，对预设深度学习模型执行模型训练操作，得到NandFalsh质量评估模型；得到待评估NandFalsh的NandFalsh信息时，基于NandFalsh质量评估模型，对NandFalsh信息执行质量评估操作，得到待评估NandFalsh对应的评估结果。在本发明实施例中，减小了NandFalsh质量评估对硬件设备的依赖。
主权项：1.一种NandFalsh的质量评估方法，其特征在于，所述NandFalsh的质量评估方法包括：检测到ECC的二进制数据集时，根据预设Batchsize，将所述二进制数据集拆分为多组训练数据；基于多组所述训练数据，对预设深度学习模型执行模型训练操作，得到NandFalsh质量评估模型；得到待评估NandFalsh的NandFalsh信息时，基于所述NandFalsh质量评估模型，对所述NandFalsh信息执行质量评估操作，得到所述待评估NandFalsh对应的评估结果。
全文数据：
权利要求：
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