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申请/专利权人：桂林电子科技大学
摘要：本发明提供的是一种卷云光学厚度反演校正方法。其特征是：利用RT3模型结合MODIS云参数和大气文件以及散射矩阵文件，建立卷云光学厚度查找表，对所得气溶胶参数进行模拟计算卷云反射率，分析气溶胶参数对卷云光学厚度反演的影响，另外将实测气溶胶参数作为模拟设定值，实现卷云光学厚度反演精度的提高。本发明采用天空‑太阳光度计获取大气气溶胶参数，利用查找表对卷云光学厚度进行反演，并与利用MODIS产品参数反演的卷云光学厚度进行对比验证。本发明利用地基‑卫星遥感探究气溶胶对卷云光学厚度的影响，将有助于实现卷云光学厚度更精确的反演以及云光学特性的准确描述。同时此方法也能广泛应用在不同地区，对其他地区卷云光学特性反演更有参考意义，在研究气溶胶效应，评估大气环境质量以及对于辐射传输模型的建立等方面具有重要的应用价值。
主权项：1.一种卷云光学厚度反演校正方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1，利用RT3模型结合MODIS云参数设定输入参数和大气文件以及散射矩阵文件，建立卷云光学厚度查找表；步骤S2，基于RT3矢量辐射传输模式建立的查找表，对所得气溶胶参数进行模拟计算得到卷云反射率，分析气溶胶参数对卷云光学厚度反演的影响；步骤S3，通过查找表对应的MODIS二级云产品，实现卷云光学厚度的反演；步骤S4，将地基实测气溶胶参数代替查找表气溶胶参数，进行卷云光学厚度反演，实现卷云光学厚度反演精度的提高。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 桂林电子科技大学 一种卷云光学厚度反演校正方法
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