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申请/专利权人：深圳市永丰盈电子有限公司
摘要：本实用新型公开了一种防探针烧坏的电路板测试结构，涉及电路板测试技术领域，为解决现有电路板测试过程中，一旦电路板短路，就容易造成导致电流过大，造成探针烧坏，此外探针处随着工作时间增加，容易导致热量堆集，导致探针过流能力随着温度升高而下降，造成探针烧坏的问题。包括：测试平台，所述测试平台上方的两侧均安装有支架，所述支架之间设置有升降板；还包括：散热箱，其安装在所述升降板的下方，所述散热箱的外壁的中间位置处安装有探针本体，且探针本体的一端延伸至散热箱的内部，所述探针本体的两侧均安装有红外热成像器，所述散热箱两侧的外壁上均设置有散热口，所述散热箱的内壁安装有风机。
主权项：1.一种防探针烧坏的电路板测试结构，包括测试平台1，所述测试平台1上方的两侧均安装有支架10，所述支架10之间设置有升降板13；其特征在于：还包括：散热箱16，其安装在所述升降板13的下方，所述散热箱16的外壁的中间位置处安装有探针本体17，且探针本体17的一端延伸至散热箱16的内部，所述探针本体17的两侧均安装有红外热成像器18，所述散热箱16两侧的外壁上均设置有散热口22，所述散热箱16的内壁安装有风机21。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市永丰盈电子有限公司 一种防探针烧坏的电路板测试结构
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