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申请/专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
摘要：本申请提供一种LCR元件测试装置及测试方法，包括母座，设有第一导电组件，第一导电组件包括多个输出端和多个检测端，每个输出端与对应的检测设备连接；子座，插接在母座的插槽内，与多个检测端连通。子座通过多个检测端与母座的输出端相连通，子座上设有用于多个待测件的多个安装孔，可通过多个安装孔安装多个待测元件，安装孔便于小元器件的安装。子座上设有第二导电组件，第二导电组件包括多个第一导电件和多个第二导电件，多个待测元件通过第一导电组件和第二导电组件与多个检测设备，实现对一个待测元件同时进行多项检测；每个待测元件通过多个导线与每个检测设备连接，能够消除待测元件与检测设备连接线路的电阻，提高待测元件的测试精度。
主权项：1.一种LCR元件测试装置，其特征在于，包括：母座1，所述母座1上设有第一导电组件3，所述第一导电组件3包括相连通的多个输出端32和多个检测端311，每个所述输出端32与对应的检测设备连接，所述母座1上还设有插槽11，多个所述检测端311均位于所述插槽11内；子座2，插接在所述母座1的插槽11内，所述子座2的一侧壁设有用于安装多个待测元件5的多个安装孔21，所述子座2上还设有第二导电组件4，所述第二导电组件4包括多个第一导电件41和多个第二导电件42，多个所述第一导电件41和多个所述第二导电件42一一对应连接，多个所述第一导电件41与多个所述安装孔21对应设置，并与对应的多个所述待测元件5连接，多个所述第二导电件42与对应的所述检测端311连接，以使多个所述待测元件5通过第一导电组件3和第二导电组件4与检测设备连通。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 航天科工防御技术研究试验中心 LCR元件测试装置及测试方法
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