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利用反应产物的衰变子体间接测量反应截面的方法及系统 

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申请/专利权人:平顶山学院

摘要:本发明属于核能发展技术领域,特别涉及一种利用反应产物的衰变子体间接测量反应截面的方法及系统,适用于目标反应产物无合适的特征伽马射线可被测量,目标反应产物和目标反应产物一代子体有合适的半衰期,且没有其它反应产生与目标反应产物及其一代子体相同的产物情况下,利用目标反应产物一代子体的特征伽马射线测量目标反应截面;该方法包括样品经中子照射后,冷却一定时间,测量目标反应产物一代子体的特征伽马射线的全能峰计数C,以及监督反应产物的特征伽马射线全能峰计数C0;计算各种修正值;将C、C0、各种修正值和其它相关参数代入目标反应截面计算公式,得到目标反应截面。本发明具有普适性,适用于满足以上条件的所有情况。

主权项:1.一种利用反应产物的衰变子体间接测量反应截面的方法,其特征在于,适用于目标反应产物无合适的特征伽马射线可被测量,目标反应产物和目标反应产物一代子体有合适的半衰期,且没有其它反应产生与目标反应产物及其一代子体相同的产物情况下,利用目标反应产物一代子体的特征伽马射线测量目标反应截面;该方法包含以下内容:样品经中子照射后,冷却一定时间,测量目标反应产物一代子体的特征伽马射线的全能峰计数C,以及监督反应产物的特征伽马射线全能峰计数C0;计算中子通量、伽马射线自吸收、伽马射线级联符合效应和样品几何各种修正值;将C、C0、各种修正值和其它相关参数代入目标反应截面计算公式,得到目标反应截面。

全文数据:

权利要求:

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