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申请/专利权人：业成光电(深圳)有限公司;业成科技(成都)有限公司;英特盛科技股份有限公司
申请日：2024-01-09
公开（公告）日：2024-04-19
公开（公告）号：CN117907284A
专利技术分类：..镜面反射率[2014.01]
专利摘要：本申请涉及量测技术领域，本申请实施例中，量测装置至少包括量测件和阻光结构，阻光结构包括主体件、光学胶和阻光件。通过设置与量测件配合使用的阻光结构，并将光学胶的折射率配置为与镀膜件的基板的折射率相同，能够消除基板背离于镀膜层一侧表面所产生的界面反射，在量测件发射的量测光在依次经由镀膜层、基板后能够到达光学胶的情况下，阻光件用于阻挡进入光学胶的光的反射至基板，进而使得量测件仅能接收由镀膜层反射的量测光，从而提高了镀膜层的反射率的量测结果的准确性。
专利权项：1.一种量测装置，用于镀膜件，所述镀膜件包括基板和沿第一方向设于所述基板的一侧表面的镀膜层，其特征在于，所述量测装置包括：量测件，用于沿所述第一方向朝所述镀膜层发射量测光，并接收所述镀膜层反射的量测光；及阻光结构，与所述量测件沿所述第一方向相对设置；其中，所述阻光结构包括具有容纳腔的主体件，以及均设于所述容纳腔内的光学胶和阻光件；所述主体件上设有与所述容纳腔相连通且朝向所述量测件设置的第一开口，所述光学胶用于借助于所述第一开口与所述基板背离于所述镀膜层的一侧相贴合；所述光学胶配置为具有与所述基板相同的折射率，所述阻光件用于阻挡进入所述光学胶的光的反射至所述基板。
百度查询： 业成光电(深圳)有限公司 业成科技(成都)有限公司 英特盛科技股份有限公司 量测装置及量测方法
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