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申请/专利权人：广州机械科学研究院有限公司

申请日：2021-09-10

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN113776916B

专利技术分类：..纯化；清洗[2006.01]

专利摘要：本申请实施例提供一种滤膜及滤膜应用方法，应用于磨损颗粒的铁谱分析和电镜能谱分析，滤膜具有一承载面，用于承载磨损颗粒；承载面上设有第一方向标记，第一方向标记用于与电镜载物台上的第二方向标记相对应；承载面上设有一个或多个标记圈，标记圈用于与电镜载物台的钉台相对应，部分磨损颗粒位于标记圈中。上述的滤膜及滤膜应用方法，在进行铁谱分析与电镜能谱分析时，使得两次观测时滤膜摆放的方向和位置相同，保证了铁谱分析与电镜能谱分析中的视场完全一致；由于滤膜的承载面上设置了标记圈，部分磨损颗粒位于标记圈中，这样通过锁定标记圈，可以准确获取磨损颗粒或磨粒区域在滤膜上的位置信息，可以快速定位特定的磨损颗粒或磨粒区域。

专利权项：1.一种滤膜应用方法，应用于磨损颗粒的铁谱分析和电镜能谱分析，其特征在于，包括如下步骤：制备磨粒谱片，磨粒谱片包括滤膜和滤膜上的磨损颗粒；所述滤膜为导电膜并具有一承载面，用于承载磨损颗粒；所述滤膜为圆形状，所述滤膜的直径为第一预设直径，所述第一预设直径与电镜载物台的直径相适配；所述承载面上设有第一方向标记，所述第一方向标记用于与电镜载物台上的第二方向标记相对应；所述承载面上设有多个标记圈，其中一个所述标记圈位于所述承载面的中心，其他所述标记圈间隔分布于所述承载面的边缘，且环绕位于所述承载面的中心的所述标记圈；所述标记圈为圆形状，所述标记圈的直径为第二预设直径，所述第二预设直径与电镜载物台的钉台的直径相适配，所述标记圈用于与电镜载物台的钉台相对应，部分磨损颗粒位于所述标记圈中，所述第一方向标记与所述标记圈之间形成定位配合；对磨粒谱片进行干燥；将磨粒谱片在显微镜下摆放，然后对谱片上的磨损颗粒进行第一次观测和分析，并确定此时滤膜的第一方向标记的摆放方向；根据滤膜的标记圈确定磨粒谱片上的特定位置；将磨粒谱片放置在电镜载物台上，滤膜的第一方向标记和电镜载物台的第二方向标记对应，且使得与第一次观测时第一方向标记的摆放方向相同，根据标记圈对目标区域的磨损颗粒进行电镜微观形貌分析和能谱元素含量检测。

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