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申请/专利权人:罗德施瓦兹两合股份有限公司
摘要:公开了一种通过采用测量天线阵列12来识别至少两个DUT天线14之间的性能偏差以确定故障DUT天线14的方法。经由所述测量天线阵列12在被分配给至少两个DUT天线14的区域中设置第一预定耦合分布22。测量用于第一耦合分布22的至少一个操作参数。然后,经由所述测量天线阵列12在被分配给至少两个DUT天线14的区域中设置第二预定耦合分布24。测量用于第二耦合分布24的至少一个操作参数,并且基于至少一个操作参数的测量结果来识别至少两个DUT天线14之间的性能偏差。此外,公开了一种测量系统10。
主权项:1.一种用于通过采用测量天线阵列12来识别至少两个DUT天线14之间的性能偏差以确定故障DUT天线14的方法,其中所述至少两个DUT天线14包括第一DUT天线14’和第二DUT天线14”,其中所述测量天线阵列12被配置为建立所述DUT天线14和所述测量天线阵列12之间的通信,所述方法包括以下步骤:-经由所述测量天线阵列12在被分配给所述至少两个DUT天线14的区域中设置第一预定耦合分布22;-测量用于第一预定耦合分布22的至少一个操作参数;-经由所述测量天线阵列12在被分配给所述至少两个DUT天线14的区域中设置第二预定耦合分布24;-测量用于所述第二预定耦合分布24的至少一个操作参数;以及-基于所述至少一个操作参数的测量结果来识别所述至少两个DUT天线14之间的性能偏差;其中所述第一预定耦合分布22和所述第二预定耦合分布24每个都表示所述测量天线阵列12与相应区域之间的电磁耦合的强度,其中所述第一预定耦合分布22和所述第二预定耦合分布24彼此不同,其中所述第一预定耦合分布22在被分配给所述第一DUT天线14’的区域中比在被分配给剩下的DUT天线14的区域中更大,并且其中所述第二预定耦合分布24在被分配给所述第二DUT天线14”的区域中比在被分配给剩下的DUT天线14的区域中更大。
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百度查询: 罗德施瓦兹两合股份有限公司 用于确定故障DUT天线的方法以及测量系统
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