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申请/专利权人:深圳市微特精密科技股份有限公司
摘要:本发明属于自动化治具领域,公开了红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置。所述方法为:设定参考电压;在有效距离d处放置DUT,得到红外反射传感器的输出电压;比较电压参考电路的参考电压和红外反射传感器的输出电压,得到电压比较器的输出状态:根据电压比较器输出状态,得到识别状态和指示器状态;根据指示器状态,校正参考电压;根据校正后的参考电压进行DUT放平识别检测。所述装置包括若干个红外反射传感器识别装置,红外反射传感器识别装置包括红外反射传感器、参考电压模块、电压比较模块和结果输出模块。本发明能快速准确的校准参考电压,避免外界因素干扰,提高放平识别精度,减少调试时间和投入成本,占用空间小。
主权项:1.红外反射传感器识别DUT放平校准的方法,其特征在于,所述方法包括:S10:设定电压参考电路的参考电压,具体设定方式为:将塞规放到DUT底下,让DUT升高,使得DUT位于红外反射传感器的最佳有效距离处,通过电压表读取红外反射传感器的输出电压值,多次重复这一操作,然后取其平均值作为参考电路的初始参考电压;S11:在红外反射传感器的有效距离d处放置DUT,得到红外反射传感器的输出电压;S12:通过电压比较器比较电压参考电路的参考电压和红外反射传感器的输出电压,得到电压比较器的输出状态;S13:根据电压比较器的输出状态,得到MCU识别状态和指示器的指示状态;S14:根据指示器的指示状态,校正并更新电压参考电路的参考电压;S15:根据步骤S14中校正更新后的参考电压进行DUT放平识别检测。
全文数据:
权利要求:
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