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用于耦合到同一串的多个擦除块当中的读取干扰跟踪的设备及方法 

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申请/专利权人:美光科技公司

摘要:本申请涉及用于耦合到同一串的多个擦除块当中的读取干扰跟踪的设备及方法。一种设备可包括存储器阵列,所述存储器阵列包括存储器单元的多个串,每一串包括:第一存储器单元群组,其耦合到第一存取线群组且对应于第一擦除块;及第二存储器单元群组,其耦合到第二存取线群组且对应于第二擦除块。控制器经配置以通过监测所述第一擦除块因以下操作而经历的读取干扰应力来确定由所述第一擦除块经历的读取干扰应力的积累量:对所述第一擦除块执行的读取操作;对所述第二擦除块执行的读取操作;及对所述第二擦除块执行的编程验证操作。所述控制器可响应于由所述第一擦除块经历的读取干扰应力的所述积累量满足某一准则而对所述第一擦除块执行某一动作。

主权项:1.一种用于读取干扰跟踪的设备,其包括:存储器阵列102;202;302;402,其包括存储器单元的多个串325-1,325-2,其中所述多个串中的每一串包括:第一存储器单元群组,其耦合到第一存取线群组322-1T、322-2T、…、322-NT且对应于第一擦除块;及第二存储器单元群组,其耦合到第二存取线群组322-1B、322-2B、…、322-MB且对应于第二擦除块305-2;405-2;以及控制器110;1191,其耦合到所述存储器阵列且经配置以:监测由于对所述第一擦除块执行的读取操作而由所述第一擦除块经历的读取干扰应力的量;监测由于对所述第二擦除块执行的读取操作而由所述第一擦除块经历的读取干扰应力的量;及监测由于对所述第二擦除块执行的编程验证操作而由所述第一擦除块经历的读取干扰应力的量;及响应于以下各项中的一或多者而对所述第一擦除块执行某一动作:确定由于对所述第一擦除块执行的读取操作而由所述第一擦除块经历的读取干扰应力的所述量已满足第一准则;确定由于对所述第二擦除块执行的读取操作而由所述第一擦除块经历的读取干扰应力的所述量已满足第二准则;及确定由于对所述第二擦除块执行的编程验证操作而由所述第一擦除块经历的读取干扰应力的所述量已满足第三准则。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 美光科技公司 用于耦合到同一串的多个擦除块当中的读取干扰跟踪的设备及方法

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