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一种比特映射设计方法和装置 

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申请/专利权人:清华大学

摘要:本申请涉及数字信息传输技术领域,特别涉及一种比特映射设计方法和装置,其中,方法包括:根据比特映射方案对信道模型进行初始化,得到信道参数和目标比特映射参数,并进行多边类型密度进化分析,得到系统信噪比与误码率的性能结果,并使性能结果满足预设期望;结合性能结果进行二元交换得到候选比特映射参数集合,遍历集合中的候选比特映射参数,并与目标比特映射参数的性能结果对比,得到性能结果最优的比特映射参数,从而生成信噪比门限性能更优的比特映射系统。由此,解决了相关技术中对于独立解映射的输出近似主要采用高斯近似,无法保证渐近性能分析的精度,且存在系统信噪比门限性能不佳等问题。

主权项:1.一种比特映射设计方法,其特征在于,包括以下步骤:获取目标比特映射系统的比特映射方案和信道模型;根据所述比特映射方案对所述信道模型进行初始化,得到信道参数和目标比特映射参数,基于所述信道参数和所述目标比特映射参数对所述目标比特映射系统进行多边类型密度进化分析,得到系统信噪比与误码率的性能结果;判断所述系统信噪比与误码率的性能结果是否满足预设性能条件,若否,则根据所述信道模型调整所述信道参数,直到调整后信道参数对应的性能结果满足所述预设性能条件;结合所述性能结果进行二元交换得到候选比特映射参数集合,遍历所述候选比特映射参数集合中的候选比特映射参数,并对比所述候选比特映射参数与所述目标比特映射参数的性能结果,直到全部遍历,得到性能结果最优的比特映射参数,基于所述性能结果最优的比特映射参数生成最优的比特映射系统;所述遍历所述候选比特映射参数集合中的候选比特映射参数,并对比所述候选比特映射参数与所述目标比特映射参数的性能结果,直到全部遍历,得到性能结果最优的比特映射参数,包括:遍历所述候选比特映射参数集合,得到候选比特映射参数;判断所述候选比特映射参数是否与所述目标比特映射参数等价,若等价则继续遍历所述候选比特映射参数集合;否则比较所述目标比特映射参数和所述候选比特映射参数对应的性能结果,若所述候选比特映射参数的性能结果优于所述目标比特映射参数的性能结果,则更新所述目标比特映射参数,并重新调整所述信道参数,否则继续遍历所述候选比特映射参数集合,直到全部遍历,得到所述性能结果最优的比特映射参数;所述结合所述性能结果进行二元交换得到候选比特映射参数集合,包括:对所述目标比特映射参数进行二元交换,以对调基矩阵的任意两列或任意两组星座比特,得到候选比特映射参数;根据所述目标比特映射参数的所有可能的二元变换结果组成所述候选比特映射参数集合;所述基于所述信道参数和所述目标比特映射参数对所述目标比特映射系统进行多边类型密度进化分析,得到系统信噪比与误码率的性能结果,包括:根据所述信道模型和所述信道参数进行独立解映射,得到独立解映射输出的星座比特对数似然比的概率密度函数;根据所述星座比特对数似然比的概率密度函数对目标比特映射系统的LDPC码进行多边类型密度进化分析,得到系统信噪比与误码率的性能结果。

全文数据:

权利要求:

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