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申请/专利权人：中国科学院半导体研究所
摘要：本公开实施例提供了一种微波频率测量系统和方法，系统包括：光源；光分束器；扫频微波源；电分束器；马赫曾德尔调制器，用于调制第二光信号和第二扫频信号；光带通滤波器，用于产生泵浦光；射频源，用于产生待测射频信号；混频器，用于得到混频信号；90°电耦合器，用于得到第一射频信号和第二射频信号；双平行马赫曾德尔调制器，用于调制第三光信号、第一射频信号和第二射频信号，产生探测光；受激布里渊效应结构，用于对泵浦光和探测光进行调制，产生基于受激布里渊效应的光谱信号；信号处理装置，用于处理光谱信号，以确定待测射频信号的频率。本公开实施例提供的微波频率测量系统能够利用小扫频范围的扫频源测量大范围微波信号。
主权项：1.一种微波频率测量系统，其特征在于，包括：光源，用于产生第一光信号；光分束器，用于将所述第一光信号一分为二，得到第二光信号和第三光信号；扫频微波源，用于产生第一扫频信号；电分束器，用于将所述第一扫频信号一分为二，得到第二扫频信号和第三扫频信号；马赫曾德尔调制器，用于在直流电压源的电压调节下，调制所述第二光信号和所述第二扫频信号，以产生载波和±2阶边带光信号；光带通滤波器，用于对所述载波和±2阶边带光信号进行滤波，产生泵浦光，所述泵浦光为载波和-2阶边带光信号；射频源，用于产生待测射频信号；混频器，用于对所述第三扫频信号和所述待测射频信号进行混频，得到混频信号；90°电耦合器，用于对所述混频信号进行电耦合，得到第一射频信号和第二射频信号；双平行马赫曾德尔调制器，用于在所述直流电压源的电压调节下，调制所述第三光信号、所述第一射频信号和所述第二射频信号，产生探测光，所述探测光为载波抑制的-1阶边带光信号；受激布里渊效应结构，用于对所述泵浦光和所述探测光进行调制，产生基于受激布里渊效应的光谱信号；信号处理装置，用于处理所述光谱信号，以确定所述待测射频信号的频率。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院半导体研究所 微波频率测量系统和方法
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